ツチヤ, タカヒロ
土屋, 隆裕 (1969-)
著者名典拠詳細を表示
| 著者の属性 | 個人 |
|---|---|
| 一般注記 | SRC:一般化等質性分析による質的データのための尺度構成法 / 土屋隆裕[著](私製, 1997.4) |
| 生没年等 | 1969 |
| コード類 | 典拠ID=AU00059830 NCID=DA11985108 |
| 1 | 悪い統計学 : データ分析の落とし穴 / ピーター・シュライバー著 ; 佐藤聡訳 東京 : ニュートンプレス , 2022.10 |
| 2 | 概説標本調査法 / 土屋隆裕著 東京 : 朝倉書店 , 2009.8 |