Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends / A. Benninghoven, F.G. Rüdenauer, H.W. Werner
(Chemical analysis ; v. 86)
| データ種別 | 図書 |
|---|---|
| 出版情報 | New York : John Wiley & Sons , c1987 |
| 著者標目 | *Benninghoven, A. Rüdenauer, F. G. Werner, H. W. |
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| 大きさ | xxxv, 1227 p. : ill. ; 24 cm |
|---|---|
| 件 名 | LCSH:Secondary ion mass spectrometry |
| 一般注記 | "A Wiley-Interscience publication." Bibliography: p. 1125-1216 Includes index |
| 分 類 | LCC:QD96.S43 DC19:543/.0873 |
| 書誌ID | BB00172520 |
| 本文言語 | 英語 |
| 巻冊次 | ISBN:0471010561 |
| NCID | BA00818946 |