ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
物質・材料研究のための透過電子顕微鏡 / 木本浩司 [ほか] 著
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| 配架場所 | 巻 次 | 請求記号 | 登録番号 | 状 態 | コメント | ISBN | 刷 年 | 予約 | 利用注記 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 理学 単行本 |
|
549.97||B95 | 11042652 |
|
9784065203866 | 2020 |
|
書誌詳細を非表示
| 大きさ | x, 389p : 挿図 ; 21cm |
|---|---|
| 別書名 | 標題紙タイトル:Transmission Electron Microscope for Materials Research 異なりアクセスタイトル:透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための 異なりアクセスタイトル:物質材料研究のための透過電子顕微鏡 |
| 件 名 | BSH:電子顕微鏡 NDLSH:材料科学 NDLSH:電子顕微鏡 |
| 一般注記 | 結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。 その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎 編集: 講談社サイエンティフィク 引用文献、参考書・参考文献: 章末 |
| 分 類 | NDC8:549.97 NDC9:549.97 NDC10:549.97 NDLC:M213 NDC10:501.4 |
| 書誌ID | BB10169314 |
| 本文言語 | 日本語 |
| 巻冊次 | ISBN:9784065203866 ; PRICE:5000円+税 |
| NCID | BC01556588 |
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