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ゴシン ノ カイタイ : シンダン エラー ニ ヒソム ニンチ バイアス

誤診の解体 : 診断エラーに潜む認知バイアス / パット クロスケリー著

データ種別 図書
出版者 東京 : メディカル・サイエンス・インターナショナル
出版年 2021.12
著者標目 Croskerry, Pat
宮田, 靖志 <ミヤタ, ヤスシ>
中川, 紘明 <ナカガワ, ヒロアキ>

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配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 コメント ISBN 刷 年 予約 利用注記
IPE 図書
WB141||C949k||2021 41056383
9784815730383

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大きさ xiv, 329p : 挿図 ; 23cm
別書名 原タイトル:The cognitive autopsy : a root cause analysis of medical decision making
異なりアクセスタイトル:誤診の解体診断エラーに潜む認知バイアス
件 名 BSH:診断学
NDLSH:診断学
一般注記 原著初版(Oxford University Press c2020)の翻訳
標題紙の表示は「Pat Croskerry 著」とあり
監訳: 宮田靖志, 中川紘明
文献あり
分 類 NDC9:492.1
NDC10:492.1
NDLC:SC231
書誌ID BB10170961
本文言語 日本語
巻冊次 ISBN:9784815730383 ; PRICE:4500円+税
NCID BC12106550

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