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Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends / A. Benninghoven, F.G. Rüdenauer, H.W. Werner

(Chemical analysis;v. 86)
データ種別 図書
出版者 New York : John Wiley & Sons
出版年 c1987
著者標目 *Benninghoven, A.
Rüdenauer, F. G.
Werner, H. W.

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配架場所 巻 次 請求記号 登録番号 状 態 コメント ISBN 刷 年 予約 利用注記
理学 単行本
433||C38||86 11009978

1987

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大きさ xxxv, 1227 p. : ill. ; 24 cm
件 名 LCSH:Secondary ion mass spectrometry
一般注記 "A Wiley-Interscience publication."
Bibliography: p. 1125-1216
Includes index
分 類 LCC:QD96.S43
DC19:543/.0873
書誌ID BB00172520
本文言語 英語
巻冊次 ISBN:0471010561
NCID BA00818946

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